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電鍍膜厚測(cè)試儀器$nX熒光等等層厚度測(cè)試儀應(yīng)用新一代的壓電源和X光管，提產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提儀器的測(cè)試效率。$n測(cè)試電鍍層儀器金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定$n黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)$n主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

檢測(cè)電鍍層儀器設(shè)備$nX熒光電鍍膜厚化驗(yàn)儀器定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. $n化驗(yàn)?zāi)ず駜x器可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

電鍍膜厚檢測(cè)儀設(shè)備樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。 設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全于國標(biāo)GBZ115-2002要求。 測(cè)定電鍍膜厚儀器設(shè)備不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。

鍍層化驗(yàn)機(jī)器設(shè)備 產(chǎn)品指標(biāo)： 測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù) 測(cè)試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層 測(cè)量下限：0.003um

韓國電鍍膜厚檢測(cè)儀精度高 我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等等

韓國ISP鍍層厚度分析儀 單層厚度范圍： 金鍍層0－8um, 鉻鍍層0-15um, 其余一般為0-30um以內(nèi)， 可最小測(cè)量達(dá)0.001um。

電鍍鍍層光譜分析儀 技術(shù)服務(wù) 賣方向買方派遣指導(dǎo)安裝、服務(wù)人員。合同簽定后，賣方應(yīng)負(fù)責(zé)本項(xiàng)目的項(xiàng)目經(jīng)理，負(fù)責(zé)協(xié)調(diào)賣方技術(shù)人員按雙方約定的時(shí)間去現(xiàn)場(chǎng)指導(dǎo)安裝、調(diào)試、技術(shù)交底、人員培訓(xùn)等。

電鍍鍍層X光譜分析儀器 本儀器產(chǎn)品特點(diǎn)： 采用了Si-Pin探測(cè)器，性能穩(wěn)定，重復(fù)性和重現(xiàn)性好。 在客戶遠(yuǎn)端請(qǐng)求下，我司技術(shù)人員可以遠(yuǎn)程協(xié)助用戶解決常見操作問題（需連接因特網(wǎng)）。 可進(jìn)行多達(dá)5層的多鍍層檢測(cè)。